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Tektronix DSA8200光示波器

Tektronix DSA8200光示波器

產品分類:光纖通訊領域儀器設備

本站價格:¥0.00


功能概述:

DSA8200是泰克公司提供的70 GHz,2通道數字示波器。
隨時間測量電子電路或組件中的電壓或電流信號,以顯示幅度,頻率和上升時間等。
應用包括故障排除,生產測試和設計。

產品詳情

附加的功能:

  • 最先進的采樣示波器,用于通信信號分析,TDR / TDT /串行數據網絡分析,重復超快信號的采集和測量
  • 擴頻時鐘(SSC)信號的采集
  • 業界唯一的主機,最多支持8個輸入通道,以提高靈活性和吞吐量
  • 四個顏色分級的可變余輝波形數據庫
  • 具有100多種自動測量的測量系統
  • 完整的通信測量套件包括兩種類型的OMA,SSC配置文件以及許多其他類型
  • 自動化的ITU / ANSI / IEEE掩碼測試
  • 內置SONET / SDH,FC,以太網和其他標準的掩碼和測量
  • 可以從工廠提供的文件中加載掩碼更新
  • 掩模余量測試,用于防護帶生產測試
  • 業界最佳的標準時基抖動性能,800 fsRMS
  • 相位基準模塊提供業界領先的時基抖動性能,<200 fsRMS
  • 快速采集速率和高吞吐量
  • 遠程采樣器可將其放置在DUT附近以實現出色的信號保真度
  • 具有眼圖平均的FrameScan采集模式:
  • 隔離與數據相關的故障
  • 檢查低功率信號
  • MS Windows XP操作系統
  • 與第三方軟件的高級連接

采集模塊

  • 完全集成的多速率光模塊
  • 高達80 GHz的光模塊80C10B
  • 某些模塊提供高精度的“ ER校準”測量
  • 電氣模塊,帶寬高達70+ GHz,測量上升時間為5 ps(10-90%)
  • 靈活的速率時鐘恢復
  • 提供具有SSC(擴頻時鐘)支持的時鐘恢復

抖動,噪聲,BER和串行數據鏈路分析

  • 測量并分離確定性數據相關抖動與隨機抖動
  • 測量垂直噪聲,將確定性數據相關噪聲與隨機噪聲分開
  • 高精度BER和眼圖輪廓估計,支持DDPWS
  • FFE / DFE均衡,發射機均衡
  • 損耗大于30 dB的通道的通道仿真
  • 用于夾具去嵌入的線性濾波器,線性濾波

TDR(時域反射儀)

  • 高達50 GHz的TDR帶寬,反射上升時間為15 ps,入射上升時間為12 ps
  • 最低噪聲,可實現精確的可重復TDR測量結果– 50 GHz時為600 µVRMS
  • 獨立的采樣器相差校正可確保輕松固定和探頭去嵌入
  • 業界唯一的主機,最多可容納四個真差分TDR或電氣通道對,以提高系統多功能性

S參數測量

  • 高達50 GHz的差分,單端,混合模式;插入損耗,回波損耗,頻域串擾,模式轉換
  • PCI Express,串行ATA,Infiniband,千兆以太網制造以及針對千兆位信號路徑和互連的標準一致性測試-包括眼罩測試
  • 直觀,簡單,準確的串行數據,千兆位數字設計和信號完整性
  • 帶有命令行界面的快速準確的自動化多端口S參數測量

應用領域

  • 電信和數據通信組件與系統的設計/驗證
  • 符合ITU / ANSI / IEEE / SONET / SDH的制造/測試
  • 高性能真差TDR測量
  • 先進的抖動,噪聲和BER分析
  • 包含S參數的串行數據應用的阻抗表征和網絡分析
  • 基于通道和眼圖仿真和測量的SPICE建模

卓越的性能和非凡的多功能性

為了開發當今的高速串行設備,DSA8200數字串行分析儀采樣示波器是用于通信,計算機和消費類電子產品的千兆位發射機和信號路徑表征以及一致性驗證的最通用的工具。該單元具有卓越的帶寬,信號保真度和最可擴展的模塊化架構,可為當前和新興的串行數據技術提供最高性能的TDR和互連分析,最準確的信號損傷分析以及BER計算。該單元提供了無與倫比的測量系統保真度和超低抖動底限,可確保最準確地采集高速信號。使用相位參考模塊,可以從200 fs的采集抖動中獲得高級分析優勢。在采樣示波器的又一個新步驟中,借助相位參考模塊,示波器可以獲取和測量SSC(擴頻時鐘)信號。多處理器架構具有專用的每插槽數字信號處理器(DSP),可提供快速的波形采集速率,從而減少了可靠表征和一致性驗證所需的測試時間。該設備的通用模塊化體系結構支持大量不斷增長的插件系列,使您可以使用各種電氣,光學和附件模塊來配置您的測量系統,這些模塊現在和將來都最適合您的應用。該單元具有6個模塊插槽,可同時容納時鐘恢復模塊,精密相位參考模塊以及多個電或光采集模塊,因此您可以將系統性能與不斷變化的需求相匹配。電氣模塊系列具有行業領先的信號保真度,其帶寬性能從12 GHz到70+ GHz。兩個帶遠程采樣器的真差分時域反射儀(TDR)模塊提供高達50 GHz的帶寬,15 ps的反射上升時間和12 ps的入射上升時間。低噪聲可變帶寬電子模塊系列通過遠程采樣器提供業界最佳的噪聲性能,在60 GHz時具有450μVRMS噪聲,在30 GHz時具有300μVRMS。光模塊提供完整的光測試解決方案,具有從125 Mb / s到43 Gb / s甚至更高的系統保真度。該模塊涵蓋單模和多模光纖的一系列波長。每個模塊可以可選地配置有多個可選的光學參考接收器(ORR)濾波器和/或全帶寬路徑。80C07B,80C08C和80C11可以配置許多可用的集成時鐘恢復選項。80C12和80C14多速率模塊時鐘恢復支持可通過電氣輸出與80A05模塊或CR175A / CR125A儀器配合使用來實現。該單元流行的FrameScan™采集模式可與DUT,BERT和其他來源的碼型配合使用,以隔離發射機中碼型相關的效應,或顯示違反模板的位序列。FrameScan自動對時基進行排序,以便按時間順序獲取數據流的每個位。當與設備的面罩測試條件采集功能結合使用時,例如擊中遮罩后停止,FrameScan可以自動識別與模式相關的故障發生在哪位。此外,支持各種功能的專用模塊,例如單端和差分電時鐘恢復,TDR的靜電保護以及與流行的TekConnect探測系統的連接性,可為您提供泰克用于高阻抗的最新探頭的性能和差分探測。還提供用于50Ω探測和TDR探測的低阻抗探頭。與流行的TekConnect探測系統的連接為您提供了Tektronix用于高阻抗和差分探測的最新探頭的性能。還提供用于50Ω探測和TDR探測的低阻抗探頭。與流行的TekConnect探測系統的連接為您提供了Tektronix用于高阻抗和差分探測的最新探頭的性能。還提供用于50Ω探測和TDR探測的低阻抗探頭。

抖動,噪聲,BER和串行數據鏈路分析

High-speed serial data link measurements and analysis are supported with three software solutions: 80SJARB, 80SJNB Essentials, and 80SJNB Advanced. 80SJARB is a basic jitter measurement tool capable of measuring jitter on any waveform – random or repetitive. The simplicity of acquisition limits the amount of analysis possible so only the simplest decomposition can be used; repeatability is pattern dependent. 80SJNB Essentials offers a complete analysis of jitter, noise, and BER, with decomposition of components for clear understanding of a signal’s problems and margins. The acquisition methodology requires a repetitive pattern. Both accuracy and repeatability are improved relative to 80SJARB since the tool has access to the complete signal pattern. 80SJNB Advanced adds features to 80SJNB Essentials for Serial Data Link Analysis – de-embedding of a fixture, channel emulation, FFE/DFE equalization, pre-emphasis/de-emphasis.

TDR(時域反射儀)

示波器是業界性能最高的全集成時域反射儀(TDR)測量系統。提供高達50 GHz帶寬的真差分TDR測量,反射上升時間為15 ps,入射上升時間為12 ps,您可以跟上當今最苛刻的串行數據網絡分析(SDNA)要求。

80E10和80E08 TDR模塊具有完全集成的獨立雙通道2米遠程采樣器系統,以最大程度地減少固定并確保最佳的系統保真度。獨立的采樣器去歪斜確??焖?,輕松地固定和探頭去嵌入。用戶可以通過使用來自差分模塊的TDR步驟來驅動一對線對,同時使用第二個差分模塊監視第二對線對來表征差分串擾。

該單元是業界用途最廣泛的TDR測量系統,最多可容納4個雙通道真差分TDR模塊,以進行快速,準確的多通道阻抗和S參數表征。P80318真差分TDR探頭和P8018單端無源手持式TDR探頭為電路板阻抗和電信號表征提供了高性能的探測解決方案。P80318是一種18 GHz 100Ω輸入阻抗差分TDR手持式探頭,可實現差分傳輸線的高保真阻抗測量。可調探頭間距可實現多種差分線間距和阻抗。P8018是20 GHz單端無源手持式TDR探頭。

串行數據網絡分析(SDNA)

隨著數字電路的時鐘速度和上升時間的增加,互連信號的完整性會極大地影響數字系統的性能。在時域和頻域中,對信號路徑和互連進行準確,高效的串行數據網絡分析(SDNA)對于預測信號損耗,抖動,串擾,端接和振鈴,數字誤碼以及眼圖退化,確保系統可靠運行至關重要。泰克提供了幾種真差分TDR模塊,這些模塊與IConnect®軟件結合使用,可以在高達–70 dB的動態范圍內測量S參數。這種性能可確保在串行數據分析,數字設計,信號完整性和電氣一致性測試應用中進行準確,可重復的測量。

憑借長記錄長度的采集,IConnect®在執行S參數測量時為獲得所需的頻率范圍和頻率階躍提供了極大的靈活性。最多可以獲取1,000,000點* 2。當將IConnect®Signal Integrity TDR和S參數軟件與示波器一起使用時,您將獲得一個高效,易用且經濟高效的解決方案,用于基于千兆位互連鏈路和設備的基于測量的性能評估,包括信號完整性分析,阻抗,S參數和眼圖測試以及故障隔離。IConnect可以幫助您在幾分鐘(而不是幾天)內完成互連分析任務,從而縮短了系統設計時間并降低了設計成本。IConnect還支持許多串行數據標準所要求的阻抗,S參數和眼圖一致性測試,

故障分析–快速識別故障位置80E10具有12 ps的典型TDR上升時間,可提供卓越的分辨率,從而在封裝,電路板和片上故障分析應用中實現最快和最有效的故障隔離。

高級通信信號分析

該單元是專為超高性能光學和電氣串行數據應用而設計的,是進行設計表征和驗證以及數據通信和電信組件,收發器子組件和傳輸系統的制造測試的理想工具。設備會生成測量結果,不僅是原始數據,還包括時間和幅度直方圖,模板測試以及統計測量結果。它提供了針對通信量身定制的測量集,包括抖動,噪聲,占空比,過沖,下沖,OMA,消光比,Q因子,平均光功率和幅度。此外,您可以進行SONET / SDH,100 Gigabit(4×25),10 Gigabit,Gigabit Ethernet和其他電氣和光學標準符合性驗證的模板測試。波形數據的顏色分級和強度分級為信號采集和分析增加了三維,即樣本密度,從而提供了直觀的見解。此外,可變持久性數據庫功能可對所有功能進行精確的數據老化,并便于在調整中的DUT上進行眼圖測量。

擴展測量系統的工具

示波器提供了一個開放的Windows環境,可使用您最喜歡的市售第三方軟件包在儀器上提供新級別的數據分析。此外,標準軟件附件TekVISA™允許將儀器置于儀器或外部PC工作站上運行的軟件應用程序(例如LabVIEW,LabWindows,Visual Basic,Microsoft Excel,C等)的控制之下。無需GPIB硬件接口即可將網絡連接到儀器。還提供了用于LabVIEW和其他程序的即插即用驅動程序。該單元結合了Microsoft Windows XP操作系統的熟悉程度和世界一流的波形采集技術。該平臺提供了廣泛的標準儀器和通信接口,包括GPIB,并行打印機端口,RS-232-C,USB串行端口和以太網LAN連接。此外,該平臺還包括DVD-CD / RW組合驅動器和可移動硬盤驅動器,用于存儲波形,設置和分析結果。

155 Mb / s至14+ Gb / s光學測試

泰克光學模塊提供了業界最高水平的集成,并具有相應更高的可重復性和結果可傳遞性。現在,一種特別對方法敏感的測量方法,即消光比(ER)也可以作為ER校準產品使用,它對結果的可移植性進行了額外的改進(僅適用于80C08C,80C11和80C14模塊)。

80C14 14 GHz寬波長多速率14 Gb / s光模塊

新型80C14是一種寬波長(700至1650 nm)的多速率光學采樣模塊,支持10 Gb / s的應用,包括數據通信和電信。受支持的數據通信應用包括9.95、10.31、11.09 Gb / s的10GbE和8G光纖通道,10G光纖通道,8.5、10.51、11.3、14.025 Gb / s的16G光纖通道應用。80C14還提供9.95、10.66、10.70和12.5 Gb / s的電信速率測試。還支持14.063 Gb / s的14G Infiniband FDR。憑借其放大的O / E設計,80C14具有出色的信噪比性能和高光學靈敏度,從而使用戶能夠檢查低功率光學信號。80C14的時鐘恢復由CR175A或CR286A時鐘恢復儀器(另售)提供。

80C08C 10 GHz寬波長多速率10 Gb / s光模塊

80C08C是一種寬波長(700至1650 nm)的多速率光學采樣模塊,可為9.95、10.31、11.09 Gb / s的10GbE應用和10.51 Gb / s的10G光纖通道應用提供數據通信速率測試。80C08C還通過9.95至11.3 Gb / s之間的多個濾波器提供電信速率測試。憑借其放大的O / E設計,該模塊提供了出色的信噪比性能和高光學靈敏度,從而使用戶可以檢查低功率水平的光學信號。80C08C可以選擇配置集成時鐘恢復選件,這些選件可以在9.8到12.6 Gb / s的連續范圍內支持任何標準或用戶定義的速率。

80C12高達10 GHz寬波長多速率1 Gb / s至10 Gb / s光學模塊

80C012是一種寬波長(700至1650 nm)的多速率光學采樣模塊,可提供1G,2G和4G電信和數據通信測試。該高度靈活的模塊可以配置為支持較低數據速率的應用程序(1到4 Gb / s)或各種各樣的10 Gb / s應用程序。低數據速率應用包括1、2和4光纖通道以及“ by 4”波分復用標準,例如10GBase-X4和4通道10 Gb / s光纖通道。受支持的10 Gb / s應用程序包括數據通信和電信。受支持的10 Gb / s數據通信應用包括9.95、10.31、11.09 Gb / s的10GbE,8G光纖通道和8.5 Gb / s,10.51和11.3 Gb / s的10G光纖通道應用。80C12還提供9.95、10.66和10.70 Gb / s的電信速率測試。通過放大的O / E設計,該模塊具有出色的信噪比性能和高光學靈敏度,允許用戶檢查低功率電平的光學信號。80C12的時鐘恢復通過80A05模塊或CR125A儀器(單獨出售)提供。

80C11 30 GHz長波多速率10 Gb / s光模塊

80C11經過優化,可通過高度靈活的多速率濾波器以10 Gb / s的速率測試長波長信號(1100至1650 nm)。此外,30 GHz(典型值)的高光學帶寬及其全帶寬路徑的出色頻率響應非常適合通用高性能光學組件測試。80C11可以配置有時鐘恢復選項,這些選項支持從9.8到12.6 Gb / s的任何標準或用戶定義的速率。

80C07B 2.5 GHz寬波長多速率155 Mb / s至2.5 Gb / s光模塊

80C07B是一種寬波長(700至1650 nm)多速率光學采樣模塊,經過優化,可測試155至2500 Mb / s的數據通信/電信信號。憑借其放大的O / E設計,該模塊可提供出色的信噪比性能,使用戶可以檢查低功率光信號。80C07B可以選擇配置為多速率時鐘恢復,工作頻率范圍為155至2.7 Mb / s。

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